数据手册DS2174 .pdf [英文Rev.1(PDF,272kB)]

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DS2174增强型误码率测试器(EBERT)是一款可软件编程的测试模式产生器、接收器和分析器,能够满足数字传输设备最严格的误差性能要求。它具有位串行、半字节并行,以及字节并行数据接口,可以产生并唯一同步至2n - 1形式的伪随机模式,其中n的取值范围为1至32,用户定义的重复性模式可以是不超过512字节的任意长度。

产品关键特性
  • 产生并检测数字模式,以便数字通信系统的分析和纠错
  • 可编程多项式长度和反馈抽头,以便产生多达232 - 1种任意伪随机模式,最多32个抽头可被用于反馈通道
  • 可编程的用户定义模式寄存器可产生长达512字节的长重复性模式
  • 大容量48位计数和误码数寄存器
  • 可软件编程的误码嵌入
  • 发送与接收通道完全独立
  • 8位并行控制端口
  • 可以在高达10-2的误码率下检测多项式测试模式
  • 可编程为串行、4位并行或8位并行数据接口
  • 串行模式时钟速率为155MHz;字节模式为80MHz,适合622Mbps的OC-3净流量
  • 采用44引脚PLCC封装
原理框图

芯片订购型号
订购型号产品状态封装形式工作温度RoHS/无铅
DS2174Q生产中PLCC;44引脚;311.5mm²封装信息0°C至+70°CRoHS/无铅:否材料分析
DS2174Q+生产中PLCC;44引脚;311.5mm²封装信息0°C至+70°CRoHS/无铅:无铅材料分析
DS2174Q+T&R生产中PLCC;44引脚;311.5mm²封装信息0°C至+70°CRoHS/无铅:无铅材料分析
DS2174Q/T&R生产中PLCC;44引脚;311.5mm²封装信息0°C至+70°CRoHS/无铅:否材料分析
DS2174QN生产中PLCC;44引脚;311.5mm²封装信息-40°C至+85°CRoHS/无铅:否材料分析
DS2174QN+生产中PLCC;44引脚;311.5mm²封装信息-40°C至+85°CRoHS/无铅:无铅材料分析
DS2174QN+T&R生产中PLCC;44引脚;311.5mm²封装信息-40°C至+85°CRoHS/无铅:无铅材料分析
DS2174QN/T&R生产中PLCC;44引脚;311.5mm²封装信息-40°C至+85°CRoHS/无铅:否材料分析
DS2174 : 增强型误码率测试器 DS2174